3.0 T磁共振成像磁敏感加权成像在脑静脉畸形中的诊断价值研究

方永昆；徐丽；张泽卫；范承林

关键词：磁共振成像, 磁敏感, 加权成像, 脑静脉畸形, 诊断价值, 脑血管畸形, 深部, 髓静脉, 检出率, 高场磁共振, 磁共振技术, 静脉引流, 区域, 皮质下, 对比分析, 表型, 影像学, 评价

摘要：脑静脉畸形（cerebral venous maiformation，CVM）是脑血管畸形的一种，其分为浅表型和深部型，浅表型指深部髓静脉区域通过浅表髓静脉引流入皮质静脉；深部型指皮质下区域引流入深部静脉系[1]，因既往常规影像学手段对其检出率较低，所以曾一度认为CVM是一种罕见的脑血管畸形。但随着近年来磁共振技术的不断发展，特别是高场磁共振中磁敏感加权成像（susceptibility weighted imaging，SWI）序列技术的出现，使CVM的检出率明显上升，目前认为是较为常见的脑血管畸形之一[2]。本研究基于3.0 T磁共振，对比分析CVM在SWI序列和常规T1WI、T2WI序列中的表现，评价SWI序列在CVM中的诊断价值。